全新的SPECTRO ARCOS光譜儀創(chuàng)新性地使用了等離子觀測(cè)接口，這是在其他ICP-OES設(shè)備前所未有的。

   SPECTRO ARCOS創(chuàng)新性地使用了無(wú)需反射鏡的MultiView光學(xué)結(jié)果，因此用戶在單臺(tái)設(shè)備上即可進(jìn)行軸向觀測(cè)和徑向直接觀測(cè)，且兩種觀測(cè)方式切換所需要時(shí)間只需要90秒甚至更少。

   如當(dāng)用戶正使用配有MultiView的SPECTRO ARCOS光譜儀在徑向觀測(cè)模式下分析高含量元素，需要在軸向觀測(cè)模式下分析基體的亞PPM痕量元素，那么只需要通過以下幾個(gè)簡(jiǎn)單步驟，即可切換到所需要的真正意義上的等離子體軸向直接觀測(cè)模式，而儀器的其他性能指標(biāo)不受任何損失。

   市面上所謂的“雙向”觀測(cè)設(shè)備其實(shí)在性能方面做出了折衷：

   高靈敏度的軸向等離子體觀測(cè)在痕量分析上有著卓越的表現(xiàn)，而高精度的徑向等離子體觀測(cè)則為分析高基體負(fù)荷和有機(jī)溶劑的首選。此前，若用戶同事需要兩種觀測(cè)模式，則折衷的雙向觀測(cè)儀器是唯一的選擇。傳統(tǒng)的雙向觀測(cè)設(shè)計(jì)采用了徑向和軸向直接觀測(cè)，而對(duì)應(yīng)的徑向或軸向觀測(cè)通過增加一組反射鏡來實(shí)現(xiàn)，遺憾的是，折衷設(shè)計(jì)從本質(zhì)上意味著對(duì)性能做出的妥協(xié)。在此模式下，光必須通過多個(gè)反射鏡，每個(gè)反射面可能高達(dá)15%的光量損失（相應(yīng)有信息也同樣丟失）此外反射光路也不能被有效地清潔?？傮w而言，光譜儀的靈敏度，尤其是在UV/VUV范圍內(nèi)會(huì)受到影響，而在高基體負(fù)荷或者有機(jī)物的情況下，穩(wěn)定性和精度會(huì)受到影響。SPECTRO ARCOS光譜儀，無(wú)反射鏡設(shè)計(jì)，能提供兩個(gè)專門的單向觀測(cè)儀器所具有的所有性能。